Effect of periodic number of [Si/Sb80Te20]x multilayer film on its laser-induced crystallization studied by coherent phonon spectroscopy. | Nanoscale Res Lett;7(1): 638, 2012 Nov 22. | MEDLINE

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Effect of periodic number of [Si/Sb80Te20]x multilayer film on its laser-induced crystallization studied by coherent phonon spectroscopy.

Zhu, Weiling; Wang, Changzhou; Sun, Mingcheng; Li, Simian; Zhai, Jiwei; Lai, Tianshu.

Afiliación

Zhu W; State-Key Laboratory of Optoelectronic Materials and Technologies, School of Physics and Engineering, Sun Yat-Sen University, Guangzhou, Guangdong, 510275, China. apzhai@tongji.edu.cn.

Nanoscale Res Lett ; 7(1): 638, 2012 Nov 22.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23173850

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanoscale Res Lett Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: China Pais de publicación: Estados Unidos

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