Demonstration of a curved sidewall grating demultiplexer on silicon.

Bock, Przemek J; Cheben, Pavel; Schmid, Jens H; Velasco, Aitor V; Delâge, André; Janz, Siegfried; Xu, Dan-Xia; Lapointe, Jean; Hall, Trevor J; Calvo, María L

Bock, Przemek J; Cheben, Pavel; Schmid, Jens H; Velasco, Aitor V; Delâge, André; Janz, Siegfried; Xu, Dan-Xia; Lapointe, Jean; Hall, Trevor J; Calvo, María L.

Afiliación

Bock PJ; Institute for Microstructural Sciences, National Research Council Canada, Ottawa, Canada. przemek.bock@sympatico.ca

Opt Express ; 20(18): 19882-92, 2012 Aug 27.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23037040

Asunto(s)

Nanotecnología/instrumentación; Refractometría/instrumentación; Silicio/química; Resonancia por Plasmón de Superficie/instrumentación; Telecomunicaciones/instrumentación; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Refractometría / Silicio / Telecomunicaciones / Resonancia por Plasmón de Superficie / Nanotecnología Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Canadá Pais de publicación: Estados Unidos

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google