Focused ion beam preparation of samples for X-ray nanotomography.

Lombardo, Jeffrey J; Ristau, Roger A; Harris, William M; Chiu, Wilson K S

Lombardo, Jeffrey J; Ristau, Roger A; Harris, William M; Chiu, Wilson K S.

Afiliación

Lombardo JJ; Department of Mechanical Engineering, University of Connecticut, 191 Auditorium Road, Storrs, CT 06269-3139, USA.

J Synchrotron Radiat ; 19(Pt 5): 789-96, 2012 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22898959

Asunto(s)

Manejo de Especímenes/métodos; Tomografía por Rayos X/métodos; Iones; Microscopía Electrónica de Rastreo/métodos; Tamaño de la Partícula; Rayos X

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Manejo de Especímenes / Tomografía por Rayos X Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Asunto de la revista: RADIOLOGIA Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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