Realistic cluster modeling of electron transport and trapping in solvated TiO2 nanoparticles.

Zhang, Jing; Hughes, Thomas F; Steigerwald, Michael; Brus, Louis; Friesner, Richard A

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional de la BVS

Información y Conocimiento para la Salud

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada EVID@Easy

Realistic cluster modeling of electron transport and trapping in solvated TiO2 nanoparticles.

Zhang, Jing; Hughes, Thomas F; Steigerwald, Michael; Brus, Louis; Friesner, Richard A.

Afiliación

Zhang J; Department of Chemistry, Columbia University, New York, New York 10027, USA.

J Am Chem Soc ; 134(29): 12028-42, 2012 Jul 25.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22738308

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Am Chem Soc Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos