Phase resolved near-field mode imaging for the design of frequency-selective surfaces.

Kinzel, Edward C; Ginn, James C; Olmon, Robert L; Shelton, David J; Lail, Brian A; Brener, Igal; Sinclair, Michael B; Raschke, Markus B; Boreman, Glenn D

Kinzel, Edward C; Ginn, James C; Olmon, Robert L; Shelton, David J; Lail, Brian A; Brener, Igal; Sinclair, Michael B; Raschke, Markus B; Boreman, Glenn D.

Afiliación

Kinzel EC; Department of Physics and Optical Sciences, University of North Carolina at Charlotte, 9201 University City Blvd, Charlotte, NC 28223, USA. gboreman@uncc.edu

Opt Express ; 20(11): 11986-93, 2012 May 21.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22714184

Asunto(s)

Interferometría/instrumentación; Microscopía/instrumentación; Fotometría/instrumentación; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Fotometría / Interferometría / Microscopía Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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