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Imaging Schottky barriers and ohmic contacts in PbS quantum dot devices.
Strasfeld, David B; Dorn, August; Wanger, Darcy D; Bawendi, Moungi G.
Afiliación
  • Strasfeld DB; Department of Chemistry, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA.
Nano Lett ; 12(2): 569-75, 2012 Feb 08.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22250976
We fabricated planar PbS quantum dot devices with ohmic and Schottky type electrodes and characterized them using scanning photocurrent and photovoltage microscopies. The microscopy techniques used in this investigation allow for interrogation of the lateral depletion width and related photovoltaic properties in the planar Schottky type contacts. Titanium/QD contacts exhibited depletion widths that varied over a wide range as a function of bias voltage, while the gold/QD contacts showed ohmic behavior over the same voltage range.
Asunto(s)

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Sulfuros / Transistores Electrónicos / Nanotecnología / Puntos Cuánticos / Plomo Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Sulfuros / Transistores Electrónicos / Nanotecnología / Puntos Cuánticos / Plomo Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos