Capabilities of through-the-substrate microdiffraction: application of Patterson-function direct methods to synchrotron data from polished thin sections. | J Synchrotron Radiat;18(Pt 6): 891-8, 2011 Nov. | MEDLINE

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Capabilities of through-the-substrate microdiffraction: application of Patterson-function direct methods to synchrotron data from polished thin sections.

Rius, Jordi; Labrador, Ana; Crespi, Anna; Frontera, Carlos; Vallcorba, Oriol; Melgarejo, Joan Carles.

Afiliación

Rius J; Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, CSIC, Campus de la UAB, 08193 Bellaterra, Catalonia, Spain. jordi.rius@icmab.es

J Synchrotron Radiat ; 18(Pt 6): 891-8, 2011 Nov.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21997914

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Asunto de la revista: RADIOLOGIA Año: 2011 Tipo del documento: Article País de afiliación: España Pais de publicación: Estados Unidos

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