Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment. | Nanotechnology;22(12): 125203, 2011 Mar 25. | MEDLINE

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Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.

Lechner, Lorenz; Gaass, Markus; Paila, Antti; Sillanpää, Mika A; Strunk, Christoph; Hakonen, Pertti J.

Afiliación

Lechner L; School of Science, Low Temperature Laboratory, Aalto University, Aalto, Finland.

Nanotechnology ; 22(12): 125203, 2011 Mar 25.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21317499

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2011 Tipo del documento: Article País de afiliación: Finlandia Pais de publicación: Reino Unido

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