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Raman spectroscopic analysis of mo/si multilayers.
Allred, D D; Cai, M; Wang, Q; Hatch, D M; Reyes-Mena, A.
Afiliación
  • Allred DD; Department of Physics and Astronomy, Brigham Young University, Provo. Utah 84602.
J Xray Sci Technol ; 3(3): 222-8, 1992 Jan 01.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21307563
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Xray Sci Technol Asunto de la revista: RADIOLOGIA Año: 1992 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Países Bajos
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