Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope.

Huber, H P; Moertelmaier, M; Wallis, T M; Chiang, C J; Hochleitner, M; Imtiaz, A; Oh, Y J; Schilcher, K; Dieudonne, M; Smoliner, J; Hinterdorfer, P; Rosner, S J; Tanbakuchi, H; Kabos, P; Kienberger, F

Huber, H P; Moertelmaier, M; Wallis, T M; Chiang, C J; Hochleitner, M; Imtiaz, A; Oh, Y J; Schilcher, K; Dieudonne, M; Smoliner, J; Hinterdorfer, P; Rosner, S J; Tanbakuchi, H; Kabos, P; Kienberger, F.

Afiliación

Huber HP; Christian Doppler Laboratory for Nanoscopic Methods in Biophysics, University of Linz, Altenbergerstrasse 69, 4040 Linz, Austria.

Rev Sci Instrum ; 81(11): 113701, 2010 Nov.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21133472

Asunto(s)

Capacidad Eléctrica; Microscopía/métodos; Microondas; Nanotecnología/métodos; Calibración; Microscopía de Fuerza Atómica

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Capacidad Eléctrica / Nanotecnología / Microscopía / Microondas Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Austria Pais de publicación: Estados Unidos

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google