Aberration measurement in HRTEM: implementation and diagnostic use of numerical procedures for the highly precise recognition of diffractogram patterns. | Ultramicroscopy;111(1): 27-46, 2010 Dec. | MEDLINE

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional de la BVS

Información y Conocimiento para la Salud

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada EVID@Easy

Aberration measurement in HRTEM: implementation and diagnostic use of numerical procedures for the highly precise recognition of diffractogram patterns.

Barthel, J; Thust, A.

Afiliación

Barthel J; Institute of Solid State Research and Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C), Forschungszentrum Jülich GmbH, D-52425 Jülich, Germany.

Ultramicroscopy ; 111(1): 27-46, 2010 Dec.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21111264

Añadir a Mi BVS

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Países Bajos

Añadir a Mi BVS

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Países Bajos