Characterization and control of laser plasma flux parameters for soft-x-ray projection lithography.
Appl Opt
; 32(34): 6901-10, 1993 Dec 01.
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| ID: mdl-20856543
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Año:
1993
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos