Characterization of composition C4 explosives using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and X-ray photoelectron spectroscopy. | Anal Chem;82(17): 7237-48, 2010 Sep 01. | MEDLINE

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Characterization of composition C4 explosives using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and X-ray photoelectron spectroscopy.

Mahoney, Christine M; Fahey, Albert J; Steffens, Kristen L; Benner, Bruce A; Lareau, Richard T.

Afiliación

Mahoney CM; National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Mail Stop 8371, Gaithersburg, Maryland 20899, USA. christine.mahoney@nist.gov

Anal Chem ; 82(17): 7237-48, 2010 Sep 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20698494

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Anal Chem Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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