Characterization of thin film surfaces over an extended spatial wavelength range.
Appl Opt
; 28(14): 2765-8, 1989 Jul 15.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-20555596
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Año:
1989
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos