Surface correlation function analysis of high resolution scattering data from mirrored surfaces obtained using a triple-axis x-ray diffractometer.
Appl Opt
; 27(8): 1548-57, 1988 Apr 15.
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| ID: mdl-20531612
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Año:
1988
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos