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Evidence for a layer-dependent Ehrlich-Schwöbel barrier in organic thin film growth.
Zhang, XueNa; Barrena, Esther; Goswami, Dipak; de Oteyza, Dimas G; Weis, Claudia; Dosch, Helmut.
Afiliación
  • Zhang X; Max-Planck-Institut für Metallforschung, 70569 Stuttgart, Germany. xuena@stanford.edu
Phys Rev Lett ; 103(13): 136101, 2009 Sep 25.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19905527
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Estados Unidos
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