Sputter-induced chemical transformation in oxoanions by combination of C(60)(+) and Ar(+) ion beams analyzed with X-ray photoelectron spectrometry. | Analyst;134(5): 945-51, 2009 May. | MEDLINE

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Sputter-induced chemical transformation in oxoanions by combination of C(60)(+) and Ar(+) ion beams analyzed with X-ray photoelectron spectrometry.

Lin, Yu-Chin; Chen, Ying-Yu; Yu, Bang-Ying; Lin, Wei-Chun; Kuo, Che-Hung; Shyue, Jing-Jong.

Afiliación

Lin YC; Research Center for Applied Sciences, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan, Republic of China.

Analyst ; 134(5): 945-51, 2009 May.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19381389

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Analyst Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: China Pais de publicación: Reino Unido

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