Your browser doesn't support javascript.
loading
Methods of onion seed preparation for scanning electron microscope studies of the seed coat.
Mohamed-Yasseen, Y; Jakstys, B P; Splittstoesser, W E.
Afiliación
  • Mohamed-Yasseen Y; Dept. Horticulture, U. Illinois, Urbana 61801.
J Electron Microsc Tech ; 18(2): 207-8, 1991 Jun.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-1886004
Buscar en Google
Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Semillas / Allium / Microscopía Electrónica de Rastreo Idioma: En Revista: J Electron Microsc Tech Asunto de la revista: DIAGNOSTICO POR IMAGEM Año: 1991 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos
Buscar en Google
Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Semillas / Allium / Microscopía Electrónica de Rastreo Idioma: En Revista: J Electron Microsc Tech Asunto de la revista: DIAGNOSTICO POR IMAGEM Año: 1991 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos