Space charge limited current measurements on conjugated polymer films using conductive atomic force microscopy.

Reid, Obadiah G; Munechika, Keiko; Ginger, David S

Reid, Obadiah G; Munechika, Keiko; Ginger, David S.

Afiliación

Reid OG; Department of Chemistry, University of Washington, Seattle, WA 98195-1700, USA.

Nano Lett ; 8(6): 1602-9, 2008 Jun.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18447400

Asunto(s)

Ensayo de Materiales/métodos; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Modelos Químicos; Polímeros/química; Semiconductores; Simulación por Computador; Impedancia Eléctrica; Campos Electromagnéticos

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Polímeros / Semiconductores / Ensayo de Materiales / Microscopía de Fuerza Atómica / Modelos Químicos Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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