Procedure to characterize microroughness of optical thin films: application to ion-beam-sputtered vacuum-ultraviolet coatings.
Appl Opt
; 40(13): 2190-9, 2001 May 01.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-18357227
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Año:
2001
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos