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Domain sensitive contrast in photoelectron emission microscopy.
Thien, D; Kury, P; Horn-von Hoegen, M; Meyer Zu Heringdorf, F-J; van Heys, J; Lindenblatt, M; Pehlke, E.
Afiliación
  • Thien D; Fachbereich Physik und CeNiDE, Universität Duisburg-Essen, Campus Duisburg, 47057, Duisburg, Germany. dagmar.thien@uni-due.de
Phys Rev Lett ; 99(19): 196102, 2007 Nov 09.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18233086
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2007 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Estados Unidos
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