Selective plating for junction delineation in silicon nanowires.

Eichfeld, Chad M; Wood, Carolyn; Liu, Bangzhi; Eichfeld, Sarah M; Redwing, Joan M; Mohney, Suzanne E

Eichfeld, Chad M; Wood, Carolyn; Liu, Bangzhi; Eichfeld, Sarah M; Redwing, Joan M; Mohney, Suzanne E.

Afiliación

Eichfeld CM; Department of Materials Science and Engineering and Materials Research Institute, The Pennsylvania State University, Steidle Building, University Park, Pennsylvania 16802, USA.

Nano Lett ; 7(9): 2642-4, 2007 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-17696558

Asunto(s)

Cristalización/métodos; Nanoestructuras/química; Nanoestructuras/ultraestructura; Nanotecnología/métodos; Semiconductores; Silicio/química; Sustancias Macromoleculares/química; Ensayo de Materiales; Conformación Molecular; Tamaño de la Partícula; Propiedades de Superficie

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Semiconductores / Silicio / Cristalización / Nanotecnología / Nanoestructuras Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2007 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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