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Structure determination of the hexagonal quasicrystal approximant micro'-(Al,Si)4Cr by the strong reflections approach.
He, Z B; Zou, X D; Hovmöller, S; Oleynikov, P; Kuo, K H.
Afiliación
  • He ZB; Department of Materials Technology, Dalian University of Technology, 116024 Dalian, China.
Ultramicroscopy ; 107(6-7): 495-500, 2007.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-17234348
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2007 Tipo del documento: Article País de afiliación: China Pais de publicación: Países Bajos
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