Feedback-independent Pt nanoelectrodes for shear force-based constant-distance mode scanning electrochemical microscopy.

Etienne, Mathieu; Anderson, Emily C; Evans, Stephanie R; Schuhmann, Wolfgang; Fritsch, Ingrid

Etienne, Mathieu; Anderson, Emily C; Evans, Stephanie R; Schuhmann, Wolfgang; Fritsch, Ingrid.

Afiliación

Etienne M; Analytical Chemistry, Elektroanalytik & Sensorik, Ruhr-Universität Bochum, Universitätsstrasse 150, D-44780 Bochum, Germany.

Anal Chem ; 78(20): 7317-24, 2006 Oct 15.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-17037938

Asunto(s)

Microscopía Electrónica de Rastreo/instrumentación; Microscopía Electrónica de Rastreo/métodos; Nanoestructuras/química; Nanoestructuras/ultraestructura; Platino (Metal)/química; Electroquímica; Electrodos

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Platino (Metal) / Microscopía Electrónica de Rastreo / Nanoestructuras Idioma: En Revista: Anal Chem Año: 2006 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Estados Unidos

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