A single electron transistor on an atomic force microscope probe. | Nano Lett;6(5): 937-41, 2006 May. | MEDLINE

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A single electron transistor on an atomic force microscope probe.

Brenning, Henrik T A; Kubatkin, Sergey E; Erts, Donats; Kafanov, Sergey G; Bauch, Thilo; Delsing, Per.

Afiliación

Brenning HT; Microtechnology and Nanoscience, Chalmers University of Technology, SE-412 96, Gothenburg, Sweden. henrik.brenning@mc2.chalmers.se

Nano Lett ; 6(5): 937-41, 2006 May.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-16683829

Asunto(s)

Electrones; Microscopía de Fuerza Atómica/instrumentación; Transistores Electrónicos

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica / Electrones Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2006 Tipo del documento: Article País de afiliación: Suecia Pais de publicación: Estados Unidos

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