Simultaneous measurement of various optical parameters in a multilayer optical waveguide by a Michelson precision reflectometer. | Opt Lett;30(9): 979-81, 2005 May 01. | MEDLINE

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Simultaneous measurement of various optical parameters in a multilayer optical waveguide by a Michelson precision reflectometer.

Wang, Yi-Ping; Chen, Jian-Ping; Li, Xin-Wan; Zhang, Xiao-Hong; Hong, Jian-Xun; Ye, Ai-Lun.

Afiliación

Wang YP; State Key Laboratory on Fiber-Optic Local Area Network and Advanced Optical Communication Systems, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai 200030, China.

Opt Lett ; 30(9): 979-81, 2005 May 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-15906976

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Lett Año: 2005 Tipo del documento: Article País de afiliación: China Pais de publicación: Estados Unidos

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