X-ray nanoscale profiling of layer-by-layer assembled metal/organophosphonate films.

Libera, Joseph A; Gurney, Richard W; Nguyen, SonBinh T; Hupp, Joseph T; Liu, Chian; Conley, Ray; Bedzyk, Michael J

Libera, Joseph A; Gurney, Richard W; Nguyen, SonBinh T; Hupp, Joseph T; Liu, Chian; Conley, Ray; Bedzyk, Michael J.

Afiliación

Libera JA; Department of Materials Science and Engineering, Northwestern University, Evanston, Illinois 60208, USA.

Langmuir ; 20(19): 8022-9, 2004 Sep 14.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-15350067

Asunto(s)

Membranas Artificiales; Nanoestructuras/química; Nanotecnología/métodos; Compuestos Organometálicos/química; Compuestos Organofosforados/química; Elementos de Transición/química; Estructura Molecular; Molibdeno/química; Sensibilidad y Especificidad; Silicio/química; Espectrometría por Rayos X; Propiedades de Superficie; Difracción de Rayos X/métodos

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Compuestos Organometálicos / Compuestos Organofosforados / Elementos de Transición / Nanotecnología / Nanoestructuras / Membranas Artificiales Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Langmuir Asunto de la revista: QUIMICA Año: 2004 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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