Your browser doesn't support javascript.
loading
Use of emission electron microscope for potential mapping in semiconductor microelectronics.
Nepijko, S A; Sedov, N N; Schönhense, G; Escher, M.
Afiliación
  • Nepijko SA; Institute of Physics, University Mainz, Staudingerweg 7, 55099 Mainz, Germany. nepijko@mail.uni-mainz.de
J Microsc ; 206(Pt 2): 132-8, 2002 May.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-12000552
Buscar en Google
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links

Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2002 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Reino Unido
Buscar en Google
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links

Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2002 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Reino Unido