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Topology of technology graphs: small world patterns in electronic circuits.
Cancho, R F; Janssen, C; Solé, R V.
Afiliación
  • Cancho RF; Complex Systems Research Group, FEN-UPC, Campus Nord, B4-B5, Barcelona 08034, Spain.
Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys ; 64(4 Pt 2): 046119, 2001 Oct.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-11690102
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys Asunto de la revista: BIOFISICA / FISIOLOGIA Año: 2001 Tipo del documento: Article País de afiliación: España Pais de publicación: Estados Unidos
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