X-ray diffraction moiré topography as a means to reconstruct relative displacement fields in weakly deformed bicrystals. | Acta Crystallogr A;55(Pt 3): 423-432, 1999 May 01. | MEDLINE

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X-ray diffraction moiré topography as a means to reconstruct relative displacement fields in weakly deformed bicrystals.

Ohler M; Köhler S; Härtwig J.

Afiliación

Ohler M; European Synchrotron Radiation Facility, BP 220, F-38043 Grenoble, France, and Arbeitsgruppe Röntgenbeugung, Institut für Physik, Humboldt-Universität Berlin, Hausvogteiplatz 5-7, D-10117 Berlin, Germany.

Acta Crystallogr A ; 55(Pt 3): 423-432, 1999 May 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-10926686

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Acta Crystallogr A Año: 1999 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Estados Unidos

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