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Charging phenomena in PEEM imaging and spectroscopy.
Gilbert, B; Andres, R; Perfetti, P; Margaritondo, G; Rempfer, G; De Stasio, G.
Afiliación
  • Gilbert B; Institut de Physique Appliquée, Ecole Polytechnique Fédérale, PH-Ecublens, Lausanne, Switzerland.
Ultramicroscopy ; 83(1-2): 129-39, 2000 May.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-10805398
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Análisis Espectral / Rayos X / Artefactos / Electrones / Microscopía Tipo de estudio: Prognostic_studies Límite: Humans Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2000 Tipo del documento: Article País de afiliación: Suiza Pais de publicación: Países Bajos
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