Hot carrier scattering at interfacial dislocations observed by ballistic-electron-emission microscopy.
Phys Rev Lett
; 73(4): 577-580, 1994 Jul 25.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-10057482
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Año:
1994
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos