Direct determination of impact-ionization rates near threshold in semiconductors using soft-x-ray photoemission.
Phys Rev Lett
; 68(6): 831-834, 1992 Feb 10.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-10046004
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Año:
1992
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos