Surface crystallography of YSi2-x films epitaxially grown on Si(111): An x-ray photoelectron diffraction study.
Phys Rev Lett
; 64(3): 311-314, 1990 Jan 15.
Article
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| ID: mdl-10041948
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Año:
1990
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos