Photoelectron diffraction of Si 2p loss spectra: Depth probe for forward-scattering intensities.
Phys Rev B Condens Matter
; 48(15): 10934-10939, 1993 Oct 15.
Article
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| ID: mdl-10007394
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Phys Rev B Condens Matter
Año:
1993
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos