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1.
Phys Rev Lett ; 107(19): 195503, 2011 Nov 04.
Artículo en Inglés | MEDLINE | ID: mdl-22181625

RESUMEN

We have performed a detailed study of the lattice distortions of InP wurtzite nanowires containing an axial screw dislocation. Eshelby predicted that this kind of system should show a crystal rotation due to the dislocation induced torque. We have measured the twisting rate and the dislocation Burgers vector on individual wires, revealing that nanowires with a 10-nm radius have a twist up to 100% larger than estimated from elasticity theory. The strain induced by the deformation has a Mexican-hat-like geometry, which may create a tube-like potential well for carriers.

2.
In. Schiabel, Homero; Slaets, Annie France Frère; Costa, Luciano da Fontoura; Baffa Filho, Oswaldo; Marques, Paulo Mazzoncini de Azevedo. Anais do III Fórum Nacional de Ciência e Tecnologia em Saúde. Säo Carlos, s.n, 1996. p.515-516, graf.
Monografía en Portugués | LILACS | ID: lil-233846

RESUMEN

A espectrometria de massa de íons secundários (SIMS) permite a detecção rápida de elementos estáveis ou radioativos, bem como o cálculo de seu percentual isotópico. Ademais, essa técnica possibilita a localização de radioisótipos, à níveis de traços, em amostras biológicas. Neste trabalho procurou-se estudar a utilização dessa metodologia na detecção de urânio natural à baixa concentração. Estudos sobre a preparação de amostras e limites de detecção foram também realizados.


Asunto(s)
Elementos Radiactivos/análisis , Uranio/metabolismo , Liberación de Radiactividad Peligrosa , Espectrometría de Masa de Ion Secundario/métodos , Película para Rayos X/estadística & datos numéricos
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