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1.
Opt Express ; 21(4): 3932-40, 2013 Feb 25.
Artículo en Inglés | MEDLINE | ID: mdl-23481928

RESUMEN

The nonlinear response of amorphous silicon waveguides is reported and compared to silicon-on-insulator (SOI) samples. The real part of the nonlinear coefficient γ is measured by four-wave-mixing and the imaginary part of γ is characterized by measuring the nonlinear loss at different peak powers. The combination of both results yields a two-photon-absorption figure of merit of 4.9, which is more than 7 times higher than for the SOI samples. Time-resolved measurements and simulations confirm the measured nonlinear coefficient γ and show the absence of slow free-carrier effects versus ns free-carrier lifetimes in the SOI samples.


Asunto(s)
Modelos Teóricos , Dinámicas no Lineales , Refractometría/instrumentación , Silicio/química , Resonancia por Plasmón de Superficie/instrumentación , Simulación por Computador , Diseño Asistido por Computadora , Diseño de Equipo , Análisis de Falla de Equipo
2.
Opt Express ; 20(21): 23838-45, 2012 Oct 08.
Artículo en Inglés | MEDLINE | ID: mdl-23188349

RESUMEN

We present the characterization of the ultrafast nonlinear dynamics of a CMOS-compatible horizontal-slot waveguide with silicon nanocrystals. Results are compared to strip silicon waveguides, and modeled with nonlinear split-step calculations. The extracted parameters show that the slot waveguide has weaker carrier effects and better nonlinear figure-of-merit than the strip waveguides.


Asunto(s)
Modelos Teóricos , Nanoestructuras/química , Nanotecnología/instrumentación , Dinámicas no Lineales , Silicio/química , Resonancia por Plasmón de Superficie/instrumentación , Simulación por Computador , Cristalización/métodos , Diseño de Equipo , Análisis de Falla de Equipo , Nanoestructuras/ultraestructura
3.
Opt Express ; 19(25): 24980-5, 2011 Dec 05.
Artículo en Inglés | MEDLINE | ID: mdl-22273891

RESUMEN

We present an experimental technique to characterize backscattering in silicon microring resonators, together with a simple analytical model that reproduces the experimental results. The model can extract all the key parameters of an add-drop-type resonator, which are the loss, both coupling coefficients and backscattering. We show that the backscattering effect strongly affects the resonance shape, and that consecutive resonances of the same ring can have very different backscattering parameters.


Asunto(s)
Diseño Asistido por Computadora , Lentes , Modelos Teóricos , Dispositivos Ópticos , Silicio/química , Transductores , Simulación por Computador , Diseño de Equipo , Análisis de Falla de Equipo , Luz , Dispersión de Radiación
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